PLANCK 提供完整的源测量单元（SMU）产品组合，支持高电压输出、脉冲大电流输出以及高精度电压与电流采样。这些能力可满足功率半导体器件的多种测试需求，包括击穿电压（BV）、漏电流（IS）、导通电阻（Rds(on)）、栅极阈值电压（Vth）以及双极性特性表征等。
PLANCK 源测量单元（SMU）具备快速输出响应能力，在 3000 V 输出条件下稳定时间小于 5 ms，在 2000 A 输出条件下电流响应时间小于 20 μs。同时在电压与电流输出方面具备高精度和优异的一致性表现，适用于各类探测器与传感器的高带宽精密测试应用。
PLANCK 提供完整的电压与电流源测量仪（SMU）产品组合，支持高电压输出、脉冲大电流输出，并具备高精度电压与电流采样能力，测量分辨率最高可达 1 fA / 10 nV。这些能力可满足新材料电学特性表征的多样化需求，包括霍尔效应测试、电阻率测试、漏电流测试以及介电强度测试等。
