PLANCK 提供完整的源测量单元(SMU)产品组合,支持高电压输出、脉冲大电流输出以及高精度电压与电流采样。这些能力可满足功率半导体器件的多种测试需求,包括击穿电压(BV)、漏电流(IS)、导通电阻(Rds(on))、栅极阈值电压(Vth)以及双极性特性表征等。
PLANCK 源测量单元(SMU)具备快速输出响应能力,在 3000 V 输出条件下稳定时间小于 5 ms,在 2000 A 输出条件下电流响应时间小于 20 μs。同时在电压与电流输出方面具备高精度和优异的一致性表现,适用于各类探测器与传感器的高带宽精密测试应用。
PLANCK 提供完整的电压与电流源测量仪(SMU)产品组合,支持高电压输出、脉冲大电流输出,并具备高精度电压与电流采样能力,测量分辨率最高可达 1 fA / 10 nV。这些能力可满足新材料电学特性表征的多样化需求,包括霍尔效应测试、电阻率测试、漏电流测试以及介电强度测试等。